Prueba de Fuga
La prueba de fuga consta de la prueba de fuga de entrada (IIL y IIH) y la prueba de fuga tristate de salida (IOZL e IOZH).
Prueba de Fuga de Entrada (IIL y IIH)
La fuga de entrada ocurre en el circuito de búfer de un pin de entrada. IIH es la ruta de fuga desde el pin de entrada a GND cuando el DUT se lleva a "1", e IIL es la ruta de fuga desde VDD al pin de entrada cuando se lleva a "0":
En realidad, la medición de IIL es la resistencia desde el pin de entrada a VDD, y IIH es la resistencia desde el pin de entrada a GND. La prueba de fuga de entrada tiene como objetivo asegurar que el búfer de entrada del pin no suministre ni absorba más corriente no deseada de la especificada.
Método de Prueba (Serial)
La prueba de fuga de entrada en serie (IIL y IIH) se realiza aplicando un voltaje de VDDmax y forzando el pin de entrada específico a VDDmax (para IIH) o 0V (para IIL), mientras que los demás pines de entrada se fuerzan al lado opuesto del Pin bajo Prueba.
Prueba IIL (Serial)
- Aplicar VDDmax al pin VDD (con abrazadera de corriente).
- Forzar VDDmax en todos los pines de entrada excepto el Pin bajo Prueba.
- Forzar 0V en el Pin bajo Prueba y medir el flujo de corriente saliente:
- Mayor que el valor especificado (> -10uA): APROBADO
- Menor que el valor especificado (< -10uA): FALLA
- Repetir la prueba con el siguiente pin.
Prueba IIH (Serial)
- Aplicar VDDmax al pin VDD (con abrazadera de corriente).
- Forzar 0V en todos los pines de entrada excepto el Pin bajo Prueba.
- Forzar VDDmax en el Pin bajo Prueba y medir el flujo de corriente entrante:
- Mayor que el valor especificado (> 10uA): FALLA
- Menor que el valor especificado (< 10uA): APROBADO
- Repetir la prueba con el siguiente pin.
Método de Prueba (Paralelo)
Dado que el método serial puede identificar la fuga entre los pines de entrada, pero es demasiado ineficiente. El método de prueba paralelo es el más comúnmente utilizado en realidad. El PPMU se utiliza en el método paralelo para llevar todos los pines de entrada a VDDmax (para IIH) o 0V (para IIL) y medir la corriente de cada pin de entrada.
La única desventaja del método paralelo es que no se detectará la fuga de pin a pin, ya que todos los pines se fuerzan al mismo nivel de voltaje al mismo tiempo.
Prueba de Fuga en Estado Tristate de Salida (IOZL & IOZH)
El estado tristate, también conocido como High-Z o estado flotante, indica que aparentemente hay una alta impedancia en el pin del DUT hacia el exterior.
La fuga en estado tristate de salida ocurre cuando se aplica un nivel de voltaje ALTO o BAJO en el pin de salida del DUT, mientras el pin está condicionado para estar deshabilitado. IOZL significa la corriente que fluye hacia afuera cuando se aplica el nivel BAJO, y IOZH significa la corriente que fluye hacia adentro cuando se aplica el nivel ALTO.
Básicamente, IOZL indica la resistencia desde un pin de salida a VDD cuando está deshabilitado, y IOZH indica la resistencia a GND. La prueba asegura que el pin no suministre o absorba más corriente no deseada de la especificada.
Además, se requiere una entrada de control (señal de habilitación) en esta prueba para controlar el pin de salida específico en estado BAJO, ALTO o High-Z (deshabilitado).
Método de Prueba (Serial)
Prueba IOZL (Serial)
- Aplicar VDDmax al pin VDD (con una abrazadera de corriente).
- Condicionar el pin de salida específico al estado Hi-Z (deshabilitado).
- Forzar 0V al Pin bajo Prueba y medir la corriente que fluye hacia afuera:
- Mayor que el valor especificado (> -10uA): APROBADO
- Menor que el valor especificado (< -10uA): FALLA
- Repetir para probar el siguiente pin.
Prueba IOZH (Serial)
1. Aplicar VDDmax al pin VDD (con una abrazadera de corriente).
2. Poner en estado Hi-Z (deshabilitar) el pin de salida específico.
3. Forzar VDDmax al Pin bajo Prueba y medir el flujo de corriente en:
- **Superior al valor especificado (>10uA)**: FALLA
- **Inferior al valor especificado (<10uA)**: APROBADO
4. Repetir para probar el siguiente pin.
### Método de Prueba (Paralelo)
El método paralelo se utiliza comúnmente con PPMU para llevar todos los pines de salida a VDDmax (para IOZH) o 0V (para IOZL) y medir la corriente de cada pin de salida.
## Referencias y Reconocimientos
- _Los Fundamentos de la Prueba de Semiconductores Digitales_
- _Fundamentos de la Prueba Utilizando ATE_
> Original: <https://wiki-power.com/>
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